Thorlabs 雙折射成像系統 Ø20 mm視場
LCC7201B雙折射成像系統測量平坦樣品中由應力和應變導致的雙折射，可用于從材料和生物研究到產品質量保證的各種應用中。這套系統設計用于學術研究、yi,療zhen,斷、工業制造和產品質量保證。由于它基于液晶器件，所以內部沒有機械運動，工作穩定并且沒有振動。
Thorlabs 雙折射成像系統 ?20 mm視場
● 內置633 nm LED光源
● 測量 zui 大 半波(316 nm)的樣品延遲和 zui 大±90°的方位角
● ?20 mm視場
● 包含Windows®軟件包(詳見軟件標簽)
● 包含的樣品支架
○ MLS203P2樣品支架
○ 樣品支架轉接件，用于?1/2英寸、?1英寸和2英寸x2英寸光學元件
LCC7201B雙折射成像系統測量平坦樣品中由應力和應變導致的雙折射，可用于從材料和生物研究到產品質量保證的各種應用中。
系統包含一個剛性位移臺和轉接件，可夾持?1/2英寸、?1英寸和2英寸x2英寸樣品。
處理樣品支架轉接件，LCC7201B系統還包含一個DS12 12 VDC電源、符合具體地區的電源線、存有軟件和手冊的U盤、U,S,B 2.0 Type-A轉Type-B電纜、U,S,B 3.0 A轉Micro B電纜、一個R2L2S1B雙折射NBS 1963A分辨率測試靶。系統要通過Windows®計算機(不包含)才能工作。
Thorlabs 雙折射成像系統 ?20 mm視場
樣品安裝選項
LCC7201B系統包含Thorlabs MLS203P2樣品支架，可用于觀測樣品。它還包含三個樣品支架轉接件，可用于夾持?1/2英寸、?1英寸和2英寸x2英寸光學元件。MLS203P2樣品支架可在X方向上手動調節，可用于大于?20 mm視場的樣品。對于樣品旋轉，標準樣品位移臺可用MS,B2328(/M)面包板和MPSHA1轉接件替換。此外，為了掃描更大的樣品，系統可通過Thorlabs MLS203-1快速XY掃描位移臺升級，提供X和Y方向上的手動和電動調節。下面有樣品安裝選項的示例。
規格
| LCC7201B Specifications | ||
|---|---|---|
| Light Source Wavelengtha | 633 nm | |
| Measurement Range | Retardance | Standard Retardance Range: 0 nm to 316 nm Low Retardance Range: 0 nm to 100 nm |
| Azimuth | ±90° | |
| Measurement Accuracy | Retardance | Standard Retardance Range: ±10 nm Low Retardance Range: ±1 nm |
| Azimuth | Standard Retardance Range: ±3° Low Retardance Range: ±1° | |
| Measurement Rate | < 20 s (Based on Default Camera Settings) | |
| Field of View | ?20 mm | |
| Spatial Resolution | 9.77 μm | |
| Interfaces | USB 2.0 and USB 3.0 | |
| Imager Resolution | 2448 x 2048 Pixels | |
| Dimensions (D x W x H) | 500.0 mm x 360.0 mm x 672.0 mm | |
| Weight | 25 kg (55.1 lbs) | |
| Operating Temperature | 0 °C to 40 °C | |
| Storage Temperature | -15 °C to 65 °C | |
| Included Accessories | Sample Holder Adapters, Birefringent Resolution Target (Item # R2L2S1B) | |
a. 可定制。
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